球面収差補正STEMが導く鋼の極微細世界

JFE技報 ONLINE ISSN 2185-4327 / PRINT ISSN 1348-0669

No.37 2016年2月 分析・解析特集号

球面収差補正STEMが導く鋼の極微細世界
Sub-Nano World in Steels Clarified with Cs-Corrected STEM

山田 克美 YAMADA Katsumi    JFEスチール スチール研究所 分析・物性研究部 主任研究員(副部長)・工博

仲道 治郎 NAKAMICHI Haruo JFEスチール スチール研究所 分析・物性研究部 主任研究員(副部長)・博士(工学)

佐藤  馨 SATO Kaoru    JFEスチール スチール研究所 主席研究員・Ph.D.

要旨

球面収差補正走査透過電子顕微鏡(Cs-corrected scanning transmission electron microscope,以下Cs-corrected STEM)が,2005年に市販開始されて10年が経過した。JFEスチールでは早くからこの技術をサブナノメートル解析に必須な装置として着目し,2006年に鉄鋼分野としては世界で初めてCs-corrected STEMを導入した。JFEスチールは,この技術を高強度鋼中のナノ析出物の解析,鋼材やNi基合金の結晶粒界偏析評価,および鋼板表層における不動態皮膜の元素分析に適用し,これまで不明確であったサブナノメートル領域の構造と組成について明らかにした。

Abstract

A decade has already passed since Cs-corrected scanning transmission electron microscope (Cs-corrected (S) TEM) technology was launched into a market of electron microscopy in 2005. JFE Steel recognized this technology from its early stage and pressed ahead with the worldʼs first installation in the steel research field focusing on the possibilities as one of the absolute necessities for sub-nano analysis. In this paper, JFE Steel applied Cs-corrected STEM from 2006 to study on nano-sized MC (M: Metallic elements, C: Carbon) carbide in high strength steels, ultra thin passive films formed on type 304 stainless steels and grain boundary segregations on Fe and Ni based alloys. The elemental analyses within sub-nanometer resolution using Cs-corrected STEM have given necessary and sufficient compositional information for considering fine precipitation behavior and corrosion resistance corresponding to each material.

本文

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