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■■■■■■■■■■■■■■■■■■■ 川崎製鉄技報 KAWASAKI STEEL GIHO Vol. (1969) No.3 ■■■■■■■■■■■■■■■■■■■ |
| 直視式結晶方位解析装置の開発について A Special X-Ray Diffractometer for Determining the Crystal Orientation 鶴岡 一夫(Kazuo Tsuruoka) 安部 忠広(Tadahiro Abe) 深尾 良郎(Yoshiro Fukao) |
| 要旨 : 単結晶および多結晶体の個々の結晶の方位決定のための特殊なＸ線解析装置を開発した。装置はＸ線源，特殊試料回転機構，Ｘ線検出器，輝度変調回路およびブラウン管より構成されている。ゴニオメーターの試料保持台に取り付けた試料は，αおよびβ軸の廻りに連続的に回転する。またα軸は，β軸が360°回転する間に0.5〜1°回転する。検出器はＸ線束に対して特定面のブラッグの回折角の２倍の角度位置に固定する。回折Ｘ線を受けたとき，検出器で発生する信号は，輝度変調回路を通してブラウン管につたわる。ブラウン管はα，β軸の回転に同期して査動するので，結晶中の特定面の極点がブラウン管に輝点として出現する。その結果，結晶方位の決定が容易であり，たとえば１個の結晶の方位は４min以内で決定できる。現在多結晶体の優先方位の決定に適用できるよう装置の改造を行なっている。 |
| Synopsis : A special X-ray diffractometer has been developed for the purpose of determining the orientation of a single crystal or an individual grain in an aggregate. The apparatus consists of an X-ray source, a special goniometer, an X-ray detecter, an intensity modulation circuit and a displaying unit such as a Brown tube. A specimen mounted on the holder of the goniometer is rotated about both α and β axis continuously. The α axis rotates at 1° during the rotation of 360° about β axis. The detecter is fixed at the position on the goniometer at an angle to the beam equal to twice Bragg diffraction angle for the desired plane. When the detecter receives the diffracted X-rays, signals induced are transmitted to the displaying unit through the intensity modulation circuit. Since the unit operates synchronously with the rotations of both α and β axis, the poles of the desired plane of a crystal are displayed as bright spots on the Brown tube, and the crystal orientation can be easily determined. The time required to determine the orientation of a crystal is less than 4 minutes. The apparatus is now being improved so as to apply to the determination of the degree of the preferred orientation of the aggregate. |
| 本文（PDF: 11P/516kb） |